過去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視，而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明，在自動化程度越來越高，器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內倒出帶電，在接觸或處理器件如由機器手或人取出時會時器件會發(fā)生放電，在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同，HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞，而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞，從模型的基本理論、測試原理，試驗方法，測試設備都完全不同于HBM和MM。
CDM-I6K靜電試驗測試系統是按照標準設計的專門測試CDM的模擬器，具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩(wěn)定性好(時漂小于0.1%)、價格低等優(yōu)點。